突破高阻碳化硅电阻率测试难题，苏州晶格助力欣晖材料精准检测
——专业四探针技术结合创新方法，实现无污染、稳定可靠的高阻碳化硅电阻率测试
10月14日，重庆欣晖材料有限公司的技术人员专程到访苏州晶格，携带高阻碳化硅样品进行电阻率测试。此次测试针对高阻碳化硅电阻率测试的严苛要求——无金属残留、接触良好、数据稳定且尽量减少对成品的污染——苏州晶格凭借其专业仪器和创新方法，成功解决了客户长期未解的难题，赢得了客户的高度认可。
客户需求与市场痛点
重庆欣晖材料有限公司在研发新型高阻碳化硅材料过程中，面临电阻率测试的挑战。传统四探针测试方法无法准确测量此类高阻材料，而且市场上多数仪器难以满足无污染、稳定接触等要求。客户在多方寻求无果后，偶然了解到苏州晶格作为材料电阻率测试仪器的专业厂商，随即携带样品前来寻求解决方案。
本次接待由我们苏州晶格技术经理吴工负责。吴工长期专注于碳化硅电阻率测试方法的研究，针对高阻碳化硅材料的特性，他运用自主研发的新方法，结合公司专业的ST2253A数字式四探针电阻率测试仪器，成功实现了稳定、准确的电阻率数据输出。该测试方法不仅避免了金属残留，还确保了良好的接触与数据重复性，最大限度减少了对样品的污染。
重庆欣晖材料技术人员对测试结果表示非常满意，他说：“这个高阻碳化硅电阻率测试方案非常可以，为我们解决了燃眉之急，数据也稳定可靠，符合我们的研发需求。”此次实地测量合作不仅彰显了苏州晶格在材料测试领域的专业实力，也为高阻碳化硅等宽禁带半导体材料的研发提供了可靠的技术支持。
关于苏州晶格
苏州晶格专注于材料电阻率测试仪器的研发与生产，提供包括四探针法在内的多种测试解决方案，广泛应用于半导体、新材料及科研领域。公司以创新技术与客户需求为导向，持续助力行业突破测试瓶颈。
如果您也在材料电阻率测试中遇到类似的困扰，欢迎像重庆欣晖一样，带着您的样品和问题，来和我们聊聊。
